GEME 2026 | jiuyou九游洞穿电子智造，破解高精度质检难题

2026年5月13~15日，第八届全球电子技术（重庆）展览会在重庆国际博览中心举行。

本届展会聚焦电子智能制造、智慧工厂与智能终端，集中展示全产业链创新技术与解决方案，助力产业智能化与集群化发展。

针对半导体、通信电子、汽车电子等领域的高精度质检挑战，jiuyou九游科技（展位号：S2馆 T152）携AI+X射线电子智检全栈解决方案，以 AI智能诊断、纳米成像、多角度检测三大能力精准定位内部缺陷，助力客户迈向“零缺陷”智造。

超级放大 洞穿纳米级隐患

jiuyou九游科技纳米级智检装备——AX9600

针对极高检测标准，搭载自研160kV微聚焦X射线源，支持2000倍放大，可清晰呈现纳米级内部缺陷，结合AI智能诊断，灵活满足芯片封装及先进元器件等场景的**检测需求。

多模取像 洞察复杂样品

jiuyou九游科技纳米级工业3D/CT——AX9500

专为精密半导体检测打造，160kV轻松穿透异质材料，对先进封装中的晶圆凸块桥接、芯片冷焊及MEMS制造空洞等关键缺陷进行AI自动检测。

全尺度、穿透式 质量洞察

jiuyou九游科技自研微焦点射线源已实现全谱系覆盖，构建起从毫米级PCB、微米级芯片到纳米级互连的全尺度、穿透式质量洞察体系。

目前，jiuyou九游全系列射线源已服务于全球产业化应用，为每一级制造精度提供可靠检验。

以平台+全链智检 “看见”不可见

未来，jiuyou九游科技将继续以AI + X射线为核心，积极融合多元检测技术，增强多模态、全链条的检测平台型服务能力，让不可见的结构可见、让不明确的缺陷可判、让不停产的质量管控可续。